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光学检测设备

 
表面散射特性量测设备
Light Tec 公司产品
量子效率量测系统
Otsuka 公司产品
由法国 Light Tec 公司所开发的 Mini-Diff 与 REFLET 设备可快速且精准地量测例如扩散片或是反射片等光学材料的散射特性,其数据可保存为文本文件或其他格式,可便捷地导入至光学软件中使用。

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Otsuka QE-2000 系列,内建积分半球,并采用高灵敏度的传感器,将紫外光波段的杂散光影响降到最低,并消除再激发的荧光发光,可量测多种形式的样品,例如:溶液、粉体、固体与薄膜,各种分析功能与简便的操作,协助您获得荧光粉特性的实际值。

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2D 分光辉度检测系统
Topcon 公司产品
影像辉度设备辅助工具
思渤科技 公司产品
TOPCON SR-5000 为针对照明检测所开发出的高精度分光辉度检测系统,除辉度之外更可透过分光系统与滤片来分析各波段、色度下的量测结果,举凡 LCD 与 OLED 显示器、手机屏幕、AR/VR 显示器与车用内外装照明等皆可进行量测,甚至可搭配显微镜头进行像素检测,进一步探讨各像素内的色偏现象,提供全面性的辉度检测方案。

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 4i4Lab 是一套结合智慧照明( Intelligent Illumination )与影像识别( Image Identification )特色的工具,可以读取 2D 辉度计所导出之数据。以简单、聪明且准确地功能,分析显示器的 2D 辉度与色彩数据,支持多像素辉度分析功能,可分析子像素等级的辉度、色彩与均匀性信息,并搭配内建车用 BlackMura 均匀性规范,评价量测结果是否通过规范。
 
 
 
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