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电子产品布线分析功能I(Trace Mapping)

2024.06.18

5G 是一个万物互联的时代,机器与机器能够通信将成为普遍的特点。5G 将在 VR/AR、超高清视频、车联网、联网无人机、远程医疗、智慧电力、智能工厂、智能安防、个人 AI 设备、智慧园区等方面大放异彩,具有非常广阔的前景。对于这些应用场景来说,依赖于 5G 的基础设施以及支撑技术的云计算,边缘计算,AI 等关键技术,搭配场景终端设备,可完成极其丰富的功能和体验。
 
5G 的功能如此强大,随之而来面临的是大量的设计中存在的问题,据调查电子产品失效主要是由温度、振动、潮湿和粉尘引起。5G 电子产品的性能和指标要求就更加苛刻,拿较典型的终端产品——手机来说,其 5G 功能工作在更高的频段,物理尺寸更加紧凑,电磁损耗更集中,其性能却更容易受到温度的影响,以及受到长时间外部使用环境的影响,因此其具有更高的结构可靠性要求。
 
1. PCB封装在循环温度作用下的翘曲变形
 
在半导体行业,Flip Chip 工艺广泛用于 PCB 封装等器件连接,在此工艺下,封装就会有残余变形和应力的产生,也有塑性应变的存在。当 PCB 封装连接后,还会对其进行相应的温度循环测试。使用 Ansys Mechanical 工具对整个流程进行仿真,可以了解 Flip Chip 工艺产生的塑性状态对后续温循仿真的影响。
 
对于 PCB 仿真而言,想要得到准确仿真结果,PCB 的材料属性是关键。但对于 PCB 的结构过于复杂,且特征尺寸小,如果按传统分网格的方法,网格量会巨大,无法分析计算,如果采用简化方式,那计算精度就会大打折扣。
 
仿真模型和温度条件
仿真模型和温度条件
 
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24III-T23
MBU(陆毅刚) 电子产品布线分析功能(Trace Mapping).pdf

电子产品布线分析功能I(Trace Mapping)
2024-06-18 11:29:58
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