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CODE V使用技巧:以凹陷量数据进行表面拟合

胡理策,Cybernet Taiwan,应用工程师


有时候,你可能会想要用一组测量到的凹陷量数据在CODE V中进行表面的拟合。凹陷量数据可以是产品通过仪器实际测量得到的结果,其目的既可能是想知道加工误差,也可以是座舱或汽车的挡风玻璃这些不具一般表面参数的数据。如今CODE V最近提供了一个宏可以帮助你完成这样的任务。

 

宏的执行流程相当简单,主要是利用CODE V的优化功能来完成拟合计算。该宏会创建一套具有两个表面(参考面与拟合面)的系统来进行拟合,目的是计算参考面与拟合面间的光程距离,如「图一」所示。优化中使用自定义的误差函数,定义在不同表面位置上,参考面与拟合面间之光程距离为误差函数。而误差函数的目标会设定为数据数据中每个相应位置的凹陷量,光程距离越接近凹陷量数据,则误差函数越小。所以在优化后,拟合面的外形将吻合给定的凹陷量数据数据(有适当自由度的情况下)。

图一

 

使用者可以自行决定要用哪一种表面类型和哪些可变参数来进行拟合。「图二」是一个显示出非球面在加工过程中产生表面残波的典型范例,此为以QBF为表面类型和使用足够的非球面系数进行拟合后之结果。



 关于 Synopsys OSG
Synopsys 公司为全球知名IP半导体设计、验证与制造大厂,于2010年10月并购Optical Research Associates公司之后正式跨足光学设计领域,成立光学解决方案部继续光学产品CODE V / LightTools以及RSoft的开发作业。
 
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