首页 > 产品与服务 > 光学检测 > 二维光谱辐射测量仪SR-5000 二维光谱辐射测量仪SR-5000

SR-5000由日本Topcon 公司所开发的第一款采用超光谱测量方法,可在整面中进行多点光谱测量,实现到目前为止还没有其他设备可实现二维光谱辐射测量。


SR-5000 是一种采用光谱测量方法, 可测量平面光谱辐射的测量仪器,建立了与国家标准直接关联的可追溯性。

在专用软件中,可进行任意测量点的分光光谱的重叠比较,不同光源下的“物体色模拟”,以及与不同年龄层的光敏度和视觉特性相对应的“视感模拟”。

除此之外,也有超低亮度对应设备、近红外对应设备、2D色彩亮度计等。


主要特长

• 1nm的分光测量方式

• 有通过XYZ滤镜进行测量的混合类型

• 微距镜头类型支持子像素单位的频谱测量, 绝对精度等同于点式亮度计。

用途范围

• 显示器(LCD、OLED等)的亮度、色度不均、分光光谱的评价

• 汽车内外观 (仪表板、HUD、DRL、后灯等) 的发光分布特征和分光光谱的评价

• 光源(LED、Mini LED、OLED、Micro LED等)发光部的亮度、色度不均、发光光谱的评价

• 物体颜色(涂装、汽车内装部件等)不均的可视化

• 透明构件 (光学薄膜、薄膜等) 干涉条纹和光谱透射率的评定

• 触摸传感器的摩尔纹评估

• 半导体晶片涂层材料厚度分析

• 激光扫描的光谱测量 (LiDAR等)

• 对 VR 系统的亮度、色度和不均匀度进行简单的评估 (相对值计算)



测量项目

• 分光光谱

• 亮度

• 色度