首页 > 产品与服务 > 光学检测 > 材料空间散射测量系统REFLET 材料空间散射测量系统REFLET

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      REFLET特别适合测量各种材料和物体的前向散射/后向散射光的特性。它简单易用,允许用户测量光的能量分布或散射波瓣的光谱成份,亮度或颜色信息,由此可表征检测区域的表面的粗糙度、缺陷、薄膜或涂层类型……

      此外,三维空间的入射光打到各种表面的散射,本系统皆可提供测量方案。该系统以模块化方式构建,很容易根据用户的需求作修改,可集成通量测量,或采用光谱分析测量,或采用白光入射光源。

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REFLET的应用
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